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产品称号: 电子产品格量题目的最佳办理方案-数字集成电路参数测试
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电子产品格量题目的最佳办理方案-数字集成电路参数测试
  日期:2012-7-24 泉源:中九游会  

电子产品格量题目的最佳办理方案
————数字集成电路参数测试
电子产品的质量、牢靠性及波动性(电特征)怎样,一样平常说因由两个要素所制约:1抗搅扰才能(噪声容限),2.温度顺应范畴。
而电子产品中所选用的数字集成电路(以下简称IC)的品格怎样对上述2个要素,起着决议性的作用!
关于IC参数测试仪与一样平常功效测试仪的差别点,就在于它在举行功效测试时,同时举行直流参数的定量测试。
一. 输入逻辑电平测试
一样平常数字逻辑用“1”、“0”来表现高、低电平。这在所谓“功效测试仪”中不克不及失掉定量的剖析。
九游会在测试历程中把IC的输入电平(TTL)界说为:小于0.4V为:“0”、高于3.5V界说为:“1”,而不是一样平常TTL逻辑界说:“0”〈0.7V、“1”〉3.0V。按上述界说测试IC输入逻辑电平常,还必需施加输入负载电流,以满意用户利用条件(空载测试是有效测试!)。
输入电平加载测试的目标,便是为理解决开篇所述题目:进步IC的抗
搅扰才能(噪声容限)及IC具有更宽的事情温度范畴。
为什么“0”电平小于0.4V  及“1”电平高于3.5V的加载测试,比功效测试能更无效的办理上述题目呢?上面以TTL数字集成电路 IC,“0”电平测试为例阐明。
TTL IC 由很多(硅)三极管组成。而三极管的事情形态由基极与发射极之间(BE结)的导通电压Vbe及作用在BE结的电压Vbe所决议。一样平常Vbe为0.6~0.7V ,当Vbe大于这个值三极管将会导通。
1. 严厉区分“0”、“1”电平
很分明只需Vb≧0.7V  三极管曾经开端导通,由于“1”电平也异样大于0.7V (3.0V),此时 “0”、“1”电平无法区分!IC将处于不波动事情形态。因而“0”电平测试选取0.4V加载测试更牢靠。
2. 进步抗电磁搅扰才能
IC加载测试“0”电平小于0.4V测试经过,它具有0.3V(0.7V- 0.4V=0.3V)的噪声容限。因而具有更强的吸取、克制搅扰脉冲及电磁辐射的才能。IC的输入特征:输入电流随输入“0”电平进步以指数方法增长;即当输入电流的增长很多时,输入“0”电平电压不会进步几多,不会凌驾0.3V的噪声容限。
3. 减小电源纹波的影响
任何电子电路中的电源(VCC)、地线(GND)都市有纹波(发抖)。一样平常电子产品,纹波将控制在0.3V(峰-峰值)之内。
在实践的电路中,纹波将会叠加到IC的输入电平上发生不波动事情形态。而选取0.4V加载测试,即使叠加上纹波也不会使得“0”电平≧0.7V!
4.减小温度变革对IC的影响
温度上升1℃,三极管BE结的导通电压Vbe将降落0.002V。假如事情温度由10℃上升到50℃、此时作用在BE结的电压Vbe稳定,那么三极管就大概由停止形态酿成导通形态。选取0.4V加载测试经过的IC显然具有更宽的事情温度范畴。
          关于“1”电平九游会选取3.5V加载测试,其作用与“0” 电平0.4V加载测试相似,不再赘述。
二. 电流测试
1. 输入负载电流测试
IC输入电平在空载或负载较小时,“0”电平靠近0电位;高电平靠近电源电压。一旦输入负载加大,IC的输入“0”、“1”电平会有较大的反偏向变革:“0”、电平进步、“1”电平低落。因而IC测试中负载电流测试极为紧张。
2. 三态(高阻形态)泄电流测试
   三态为IC数字逻辑中的一种特别形态。对此形态的泄电流测试,为无效测试。假如IC此三态下存在泄电流,那么关于电子体系将发生极为严峻的结果:泄电流—﹥温度↑—﹥泄电流↑—﹥温度↑—﹥……↑
终极体系将瓦解!
比方:九游会在给某单元提供IC测试办理方案时,发明该单元消费的一台电子设置装备摆设,开机事情正常,但2小时之后体系瘫痪,30分钟可以重新开机事情。2小时之后体系再次瘫痪,……屡屡云云。经查体系总线上一片74LS245三态泄电流较大,改换一片测试经过的74LS245后,设置装备摆设事情正常。
三态是数字IC真值表中罕见的功效,但功效测试仪意外此功效。
3. 输出电流测试
很多数字逻辑单位的堆砌,组成了数字电路体系。若此中某局部出
现妨碍,很难判别是上级IC的输入端有题目,照旧本级IC的输出端有题目。输出真个题目,通常是输出电流或输出泄电流不正常。这些题目将发生招致与三态泄电流相似的恶果,并且将使体系高温事情、呈现电磁搅扰时体系事情不正常!
为理解决上述题目、改进体系高温事情效能。必需测试IC输出电流。
4. 交织泄电流测试
IC输出端交织泄电流测试的目标:办理统一IC芯片中,差别的输出
端之间的互相影响题目。这个题目将招致,体系在温度变革较大时、体系呈现电磁搅扰时,事情不正常!
三. 电子产品高温事情题目
74系列IC的事情情况温度为0—70℃。74系列IC有大概在0℃以下正常事情吗?答复是一定的!但必需对IC举行更严厉的直流参数测试、挑选。颠末挑选测试经过的IC,通常具有更高的输入负载才能,更小的输出能耗。因此由此IC组成的电子设置装备摆设,能在很低的温度下事情。
九游会提供的测试办理方案,使得某种事情在﹣25℃电子产品中,利用了很多74系列IC。
四. 数字IC测试的无效性
数字IC的功效测试仅仅测试IC的一局部输入功效(相似于“三态”、“OC”功效不克不及测试),更不克不及完成上述的各项直流参数测试。可以以为:所谓数字IC的功效测试,关于进步电子产品的质量,没有任何协助,属于有效测试!
         只要完成输出、输入、电流、电压、功耗等等各项直流参数、且完玉成部真值表功效测试,才是绝对完备的数字IC测试。有助于电子产品的质量。
         国际数字集成电路参数测试仪的典范代表是Simi-100。


五. 测试本钱剖析
集成电路(IC)测试陪同着集成电路的开展而开展。集成电路的测试,尤其是进厂的查验、测试对其使用也是非常须要的,图1表现动身现每妨碍检出费与检出阶段的干系。从图可以看出,产品进厂查验(器件级测试)每妨碍检出用度为0.3美元,在印制电路板上(板级)测试则检出费进步一个数目级,体系级及维修阶段测试,其每妨碍检出用度辨别进步2个和3个数目级。可见,集成电路进厂的测试不但对确保体系牢靠性有紧张作用,并且对低落体系本钱意义也非常严重。
      
Simi-100  数字IC多值逻辑测试仪,是经过总结外洋同类产品的好处,本着适用、利便、测试精准的主旨,面向国际外市场推出的数字IC参数测试仪(而且在不停地美满之中)。该仪器分外合适,零件消费厂商及别的IC使用厂家的器件级进厂测试。现在,对中小范围数字IC举行复杂的逻辑功效测试,已不克不及满意IC用户的测试需求。Simi-100  数字IC多值逻辑测试仪,使用首创的多值参数比力法,可以对数字IC举行功效测试并同时完成各项直流参数测试。Simi-100完全可以满意数字IC用户的直流参数测试要求。Simi-100是一种功能适用、操纵复杂、测试可信度高、本钱昂贵的良好测试仪器。它具以下次要特点。
1. 测试电源拉偏形态下,输入电平加载测试。
2. 对输入电流、输入电压直流参数举行测试的同时,完成真值表功效测试。
3. 真值表功效测试的同时,完成“三态”(高阻形态)泄电流测试。
4. 对IC输出电流、功耗电流测试。
5. 输出泄电流及交织泄电流测试。
6. 测试历程无须人工干涉。
7. 用户可以自选测试形式,利用利便、操纵简便。
8. 可主动辨认74系列中的CMOS器件。
9. 可以查找未知IC的型号。
现在Simi-100的作用单元已普及通讯、电子仪器、电力电子、办公主动化设置装备摆设、盘算机零件、交通电子、消防迷信东西等各个范畴,并获用户分歧好评。

          

 

 

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