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产品称号: 数字集成电路功效测试仪存在的严峻题目
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数字集成电路功效测试仪存在的严峻题目
  日期:2009/3/9 泉源:本站  

            数字集成电路功效测试仪存在的严峻题目

1985年陪同双列直插数字集成电路在国际的遍及使用,集成电路(下称IC)的测试题目渐渐表现出来。苹果机数字集成电路测试(下称“数字IC测试”)卡,与苹果机一同组成所谓的“团体测试仪”,是这临时期最具代表性的数字IC功效测试仪之一。实在它完满是一种为了共同苹果机贩卖而制造的“专业测试”仪。它的呈现使得方案经济体制下,很多盼望购置盘算机的单元,找到了购置盘算机的捏词;但真正盼望对数字IC举行无效测试的单元,很快发明此类IC功效测试仪毫无利用代价!但是,此种“专业测试”的数字IC测试仪仍然传承至今,数字IC功效测试仪代价昂贵是其得以传承的次要缘故原由。

数字IC(直流参数)测试仪一样平常应该具有三个根本局部:测试图形产生器、管脚电路及种种测试所必备的测试基准源。它的特点是测试IC输出、输入真个电压、电流及电源端功耗电流,同时完成数字IC的真值表功效测试。

数字IC功效测试仪的特点是:对数字IC仅仅举行真值表功效测试。由于数字IC功效测试仪,不具有直流参数测试的底子(无测试基准源等),因而只能举行一些复杂的逻辑测试,即IC输入真个“0”、“1”测试,而“0”、“1”怎样界说?当负载电流变革时“0”、“1”的变革范畴能否公道?这些都无法确定,而这是IC测试者所体贴的。

另一方面IC是由输出、输入及电源端构成,此三类端口在利用历程中是相互制约的互相影响的。由于功效测试仪不克不及对IC输出端及电源端测试(意外直流试参数),因而功效测试将发生严峻题目。上面就上述三类端口的测试,展现数字IC功效测试仪,测试后果中存在的严峻题目。

1、                      数字IC输出真个须要测试应包罗:输出短路电流及泄电流的测试。由于数字IC功效测试仪无法举行无效的直流参数测试,因而也就不克不及对输出端举行无效的测试。真值表是表征数字IC输入与输出对应逻辑干系的形态表,它的使用条件应该是输出端口残缺无损。也便是说在输出端残缺无损的状况下,可以使用真值表的逻辑干系对输入端举行功效(“0”、“1”)判别。 可以卖力任地说:某些范例数字IC假如输出端破坏,在功效测试时会呈现题目。 好比一切以与门为输出真个数字IC相与干系的输出端之间短路,那么数字IC功效测试仪对其测试的后果也会是“经过”(PASS)。好比:与门、与非门及与门输出的计数器等等。

比方:74LS30 是常用的八输出端与非门,将其八个输出端恣意短路测试后果也是“经过”(测试有效!)。读者可以试想短路其恣意2个输出端,并画出其真值表(留意:短路的2个输出端之间“0”无效,即一个为“0”另一个也为“0”)。可以看到真值表表现,它与输出端不短路的74LS30没有区别,这便是功效测试仪对其测试有效的缘故原由。 固然这是为了阐明题目所假定的一种极度的征象,实在输出泄电流过大也会对IC的利用有影响,而无效的测试办法便是对输出真个输出泄电流举行测试(必需测试直流参数)。各人熟习的SIMI-100测试仪是数字IC参数测试,假如用其测试74LS30 并在测试时,用51K电阻跨接恣意的2个输出端,那么测试后果会表现“输出生效”。测试不会经过的缘故原由是由于SIMI-100 IC输出端举行了泄电流测试。

2、                      数字IC的输入端除了“0”、“1”两种形态以外,另有第三种形态:高阻形态,通称“三态”。“三态”在真值内外用“Z”表现。对“三态”无效的测试是举行泄电流测试。 数字IC功效测试仪不克不及测试直流参数,因而不克不及对一切输入有“三态”功效的数字IC举行无效的测试!一样平常数字IC功效测试仪的被测输入端与电源之直接有电阻,它是把“Z”形态看成“1”形态来处置的。如许处置也会发生严峻的题目! 比方:74LS125 4总线逻辑图见图174LS32  为四-2输出或门逻辑图见图2174LS125 的真值表,表274LS32的真值表。

 

                                 

 

                                          

 

 A   B    O                            A    B    O 

 

0   0    0                            0    0    0

0   1    1                            0    1    1

1   0    Z                            1    0    1

1   1    Z                            1    1    1

   1                                  2

假如将74LS125 真值表(表1)里的“Z”改成“1”,则74LS12574LS32 在真值表上就没有区别了。

 实践上数字IC功效测试仪正是如许做的。读者可以用此类仪器,在74LS125测试形态下测试74LS32,会发明测试后果是经过(PASS),反之在74LS32测试形态下测试74LS125,会发明测试后果也是经过(PASS)。而这两种IC芯片毫无相反之处!缘故原由就在于功效测试仪把“Z”看成“1”来处置。显然IC功效测试仪,对输入有“三态”的IC测试有效! SIMI-100仪器上举行上述操纵,就不会呈现这个后果,缘故原由是:SIMI-10074LS125举行了无效的“三态”泄电流测试。因而相对不会将这两种IC等量齐观[děng liàng qí guān]。

 

 

 

3、              由于数字IC功效测试仪不克不及举行直流参数测试,因而无法举行电源端功耗电流测试。 多功效相反但直流参数(芯片质料差别)不相反的数字IC,是不克不及交换利用的。好比COMSTTL 芯片,通常在定型的电子产品中是不克不及交换利用的。 比方:74LS00 74HC00 电源端功耗电流相差甚大,在实践使用中是不克不及交换利用的,而意外试电源端功耗电流就难以能辨认这两种IC 上述种种题目只是数字IC功效测试仪测试题目的一局部,另有比方:“OC”也是一种功效,“OC”门怎样测试?功效测试仪能否也将管脚相反的“OC”门与非“OC”门殽杂了呢?有些计数器的输出端也是输入端,对此类端口怎样测试?双向总线怎样测试?等等。在此笔者不做探求。 别的IC测试仪有具有上面两个根本特性:

1、                       IC测试仪的测试(插座)管脚,除了正在测试以外的形态,应该维持高阻形态,由于很多被测试的IC是不容许带电插拔,不然会形成IC的破坏。

2、                       IC测试仪应该包管被测试的IC芯片即使完全破坏,也不该该破坏测试仪。 由于数字IC功效测试仪的管脚电路本钱昂贵,因而一些此类测试仪,无法包管这两个根本要求。 由于数字IC功效测试仪的代价昂贵,因而被一些必要装备测试仪(如:必要经过某种认证),但又不实践利用(仅仅是部署)的单元所推销。此类功效测试仪对电子产品的质量保证毫偶然义!笔者以为用数字IC功效测试仪测试IC芯片,不如意外!他会给IC利用者带来新的贫苦。

 

 

 

有关数字IC无效的参数测试请拜见《电子产品格量题目的最佳办理方案—数字集成电路参数测试》一文。 笔者尽力发起利用IC测试仪的企业;发起将IC测试仪用于讲授实行的高校:选用IC参数测试仪。 数字IC功效测试仪并未在产品称号中标明“功效测试仪”的字样,还请测试仪的利用者细心鉴别。

笔者在此提供读者选择IC(参数)测试仪的两个复杂的尺度:

1、              单台仪器的反复性要好:用统一台仪器测试统一个IC芯片反复性要好。

2、              多台仪器的分歧性要好:用多台统一机型的仪器,测试统一IC芯片,后果要根本分歧。

 对上述所讨论的题目感兴味的读者可与我交换。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 
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